====== IST(in-system test) ======
是用于车规级等安全性要求比较高的芯片场景。

主要是IST可以支持产生JTAG信号，用于在线控制logic bist & memory bist等。

其中如果为了加速memory bist, 可以使用BAP的DirectAccess 来控制（这块与IST产生的JTAG接口没有关系）。

Figure 1. Initial Design for Automotive Test Case

{{:edastudy:tessent:pasted:20240516-155724.png?nolink}}

Figure 2. DFT Integration at the Core Level for Automotive

{{:edastudy:tessent:pasted:20240516-155807.png?nolink}}


Figure 3. DFT Integration at the Top Level for Automotive

{{:edastudy:tessent:pasted:20240516-155826.png?nolink}}


===== - dft spec =====
注：目前IST只能通过把TRSTB拉低来实现JTAG复位，其无法发出连续把TMS拉高5个tck cycle，这个是硬件代码限制。

IST数据接口有两种：\\
    * cpu interface -- 数据直接由FW控制，方便直接写入到FW程序中
    * dma interface -- 速度快，数据直接从memory内存中搬移

<color #ed1c24>而且可以两种接口的IST都可以一起加进来，这个超级方便，不用二选一，两者都要。</color>

<code tcl>

InSystemTest {
   Controller(cpu) {
# 指定为current design, 添加一个CPU接口的IST
      DesignInstance (.){}
	//host_interface: HostScanInterface(sri);
      data_width : 32 ;
      protocol : cpu_interface;
      ControllerChain {
        present : on ;
        clock: tck;
        segment_per_instrument: on ;
      }
      Connections {
        reset : ist_if/reset;
        CpuInterface {
          Generic {
            clock   : ist_if/clock    ;
            data_in : ist_if/data_in  ;
            data_out: ist_if/data_out ;
            write_en: ist_if/write_en ;
            enable  : ist_if/enable   ;
          }
        }
      }
   }

# 指定instance的 host scan interface, 添加一个DMA接口的IST
   Controller(dma) {
      DesignInstance(chip_top_rtl1_tessent_tap_main_inst) {
          client_interface : tap_client;
      }
	//host_interface: HostScanInterface(sri);
      data_width : 32 ;
      protocol : cpu_interface;
      ControllerChain {
        present : on ;
        clock: tck;
        segment_per_instrument: on ;
      }
      Connections {
        reset : ist_if/reset;
        CpuInterface {
          Generic {
            clock   : ist_if/clock    ;
            data_in : ist_if/data_in  ;
            data_out: ist_if/data_out ;
            write_en: ist_if/write_en ;
            enable  : ist_if/enable   ;
          }
        }
      }
   }
}

</code>


===== - pattern spec =====

<code tcl>
read_config_data -in $spec -last -from_string {
    InSystemTest {
        # 这个可以指定具体的IST，当多个IST存在时，不会有pattern冲突
        Controller(icl_instance_name) {
            TestProgram(0) {  
                pattern : pattern_wrapper_name ;
                finish_with_ireset : on | off ;
            }
            // 可以写多个测试program,  cpu接口时，工具只跑最后一个tesetprogram的仿真。
            TestProgram(1) {  
                pattern : pattern_wrapper_name ;
                finish_with_ireset : on | off ;
            }
        }
    }
}
</code>