edastudy:tessent:memory_bist
差别
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| 两侧同时换到之前的修订记录前一修订版 | |||
| edastudy:tessent:memory_bist [2025/06/11 08:54] – [表] user01 | edastudy:tessent:memory_bist [2025/07/03 08:13] (当前版本) – [2.9.1 多次memory bist repair测试结果积累] user01 | ||
|---|---|---|---|
| 行 404: | 行 404: | ||
| 测试第一次时，将fuse ram内容清空，写fuse。 | 测试第一次时，将fuse ram内容清空，写fuse。 | ||
| - | 测试第二次，运用第一次测试得出来的fuse进行上电分发，（fuse值不要烧到fuse）\\ | + | 测试第二次，运用第一次测试得出来的fuse进行上电分发，（fuse值不要烧到fuse）,即bisr chain上还是保留的是带repair的信息，这时直接进行repair analysis\\ |
| - | 测试，得结果后，先把fuse ram内容清空，写fuse. | + | 得结果后，先把fuse ram内容清空，写fuse. |
| 此时最终的fuse值就得出来了。 | 此时最终的fuse值就得出来了。 | ||
edastudy/tessent/memory_bist.txt · 最后更改: 2025/07/03 08:13 由 user01