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edastudy:tessent:atpg

差别

这里会显示出您选择的修订版和当前版本之间的差别。

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--- edastudy:tessent:atpg [2025/03/16 14:23] – [atpg] user01
+++ edastudy:tessent:atpg [2026/07/06 19:14] (当前版本) – [3. X-bounding] user01
@@ 行 1: / 行 1: @@
 ====== - atpg ======
+===== - LE TE概念 =====
+  LE: Leading-Edge    -- 上升沿触发的寄存器
+  TE: Trailing-Edge   -- 下降沿触发的寄存器
+{{:edastudy:tessent:pasted:20260630-110439.png?nolink}}
+{{:edastudy:tessent:pasted:20260630-110500.png?nolink}}
 ===== - Transition AC =====
@@ 行 62: / 行 71: @@
 </code>
-====== gen atpg pattern ======
+===== - OCC clone =====
+或者是多个OCC设置兼容模式
+方式一：\\
+<code>
+# 将同源或同频的 OCC 输出时钟分配到同一同步组
+add_synchronous_clock_group {clk1 clk1_p clk2 clk2_p}
+# 如果是想把OCC输出也弄成一个group的话，这里只需要写occ的inst hier name
+</code>
+方式二：\\
+将多个clk添加同一个clock_intercept_node上，它们会共享OCC的shift cgc，永远是同步输出capture clock。
+<code>
+set occ [ add_config_element OCC/Controller($id) ]
+set_config_value clock_intercept_node -in $occ $clk
+</code>
+在ATPG时启用兼容时钟模式：\\
+set_clock_restriction domain_clock -compatible_clocks_between_loads on
+report_synchronous_clock_groups
+====== - gen atpg pattern ======
 需要读取icl pdl, tcd, netlist文件，这样就可以跑出atpg pattern
 <code tcl>
@@ 行 101: / 行 133: @@
 让逻辑结合部分在shift阶段状态不变化,在capture阶段再变化。
+====== - X-bounding ======
+如果报
+<code>
+// Warning: Could not identify the data path input for the library cell containing
+// the memory element at /dff115/D (382.4). X-bounding logic cannot be inserted in
+// the scan path so this is a fatal error. This could be caused by missing
+// pin constraints and/or scan_enable connections. (XB2-1)
+</code>
+一个解法是给对应的register cell换成带scan cell的，要么把它的SE悬空，要么把它case为1，即能在它前面正常插入x-bounding.

edastudy/tessent/atpg.1742106196.txt.gz · 最后更改: 2025/03/16 14:23 由 user01