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edastudy:jtag调试器

差别

这里会显示出您选择的修订版和当前版本之间的差别。

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--- edastudy:jtag调试器 [2025/06/23 19:30] – ↷ 页面名由edastudy:ulink改为edastudy:jtag调试器 user01
+++ edastudy:jtag调试器 [2025/06/23 20:21] (当前版本) – [2. Ulink2] user01
@@ 行 13: / 行 13: @@
 ===== - Ulink2 =====
+没有明确说支持jtag chain device数量, 只能配合Keil使用
 https://developer.arm.com/documentation/101455/0100/Using-ULINK2/Chaining-Multiple-Targets
-没有明确说支持jtag chain device数量
  The results of this scan are displayed in the JTAG Device Chain section of the ARM Target Driver Setup dialog (Project — Options for Target — Debug — Settings).
@@ 行 33: / 行 33: @@
 https://developer.arm.com/documentation/101416/0100/Using-ULINKpro/Chaining-Multiple-Targets?lang=en
-没有明确说支持jtag chain device数量
+没有明确说支持jtag chain device数量, 只能配合Keil使用
 {{:edastudy:pasted:20250623-155731.png?nolink}}
@@ 行 44: / 行 44: @@
 ===== - Ulink Plus =====
-没有明确说可以支持jtag chain,
+没有明确说可以支持jtag chain, 只能配合Keil使用
 {{:edastudy:pasted:20250623-161400.png?nolink}}
 ===== - TRACE32 =====
+{{edastudy:app_jtag_interface.pdf}}  第23页
 在单片系统中，TRACE32可以使用SYStem.DETECT DAP访问DAP中的单根ROM表，对系统进行认证和发现。那么在多芯片系统中是如何实现的呢？
@@ 行 64: / 行 65: @@
 ===== - JLINK =====
 https://kb.segger.com/UM08001_J-Link_/_J-Trace_User_Guide#Determining_values_for_scan_chain_configuration
+https://www.segger.com/products/debug-probes/j-link/?mtm_campaign=kb&mtm_kwd=jlink
 J-Link / J-Trace can handle multiple devices in the scan chain. This applies to hardware where multiple chips are connected to the same JTAG connector. As can be seen in the following figure, the TCK and TMS lines of all JTAG device are connected, while the TDI and TDO lines form a bus.

edastudy/jtag调试器.1750678236.txt.gz · 最后更改: 2025/06/23 19:30 由 user01